Научная группа, работающая под руководством профессора института ПМТ д.т.н. Шерченкова Алексея Анатольевича, приняла участие в IX Всероссийской школе-семинаре студентов, аспирантов и молодых ученых по направлению «Диагностика наноматериалов и наноструктур» с 18 по 22 сентября 2017 в г. Рязани.
По результатам школы-семинара дипломами были награждены:
— Лазаренко Петр Иванович (доцент) за лучший доклад «Влияние имплантации ионов висмута на свойства тонких пленок Ge2Sb2Te5» в секции молодые ученые;
— Терехов Дмитрий Юрьевич (аспирант) за доклад «Исследование термоэлектрических и электрофизических свойств наноразмерных тонкопленочных структур на основе материала фазовой памяти Ge2Sb2Te5» в секции 1;
— Якубов Алексей Олегович (аспирант) за доклад «Диагностика электрофизических характеристик тонких пленок Ge2Sb2Te5, сформированных разными методами осаждения» в секции 2;
— Зыбина Юлия Сергеевна (аспирант) за доклад «Электронно-микроскопические исследования структурных изменений в наноразмерных пленках Ge2Sb2Te5 под воздействием отжига» в секции 3.
Свидетельствами с благодарностью были также отмечены магистры первого года обучения Глухенькая Виктория, Калинина Ольга, Соколов Максим, Пепеляев Дмитрий.
